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技術(shù)文章

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帶你了解影響光譜儀性能的的一些因素光譜學(xué)測量的基礎是測量光輻射與波長(cháng)的對應關(guān)系。一般來(lái)說(shuō)，光譜學(xué)測量的直接結果是由很多個(gè)離散的點(diǎn)構成曲線(xiàn)，每個(gè)點(diǎn)的橫坐標(X軸)是波長(cháng)，縱坐標(Y軸)是在這個(gè)波長(cháng)處的強度。因此，一個(gè)光譜儀的性能，可以粗略地分為下面幾個(gè)大類(lèi)：1.波長(cháng)范圍波長(cháng)范圍是光譜儀所能測量的波長(cháng)區間。常見(jiàn)的光纖光譜儀的波長(cháng)范圍是200-1100nm，也就是可以探測紫外光、可見(jiàn)光和短波近紅外光，可以擴展至200-2500nm，覆蓋整個(gè)紫外-可見(jiàn)-近紅外波段。光柵及探測器的類(lèi)型會(huì )影響波長(cháng)范圍。一般來(lái)說(shuō)，寬的波長(cháng)...

3-1 2018

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